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在無損檢測和醫療診斷領域，探測器陣列由于成像區域大、圖像幾何畸變小、轉換效率高、信噪比優良等特性，近年來得到了快速的發展。半導體陣列成像技術可以方便的實現數字化，所以這種成像技術經常被稱之為射線數字成像技術，相應的射線探測器稱為數字探測器陣列，簡寫為DDA。

一、結構特點

目前，大幅面、陣列式圖像傳感器主要是CMOS圖像傳感器和a-si：H TFT圖像傳感器。從CCD圖像傳感器的工作原理和制造成本考慮，不宜用作DDA的圖像傳感器.

1.圖像傳感器

CMOS圖像傳感器由于受晶圓直徑的限制目前只能做到100mm×100mm的中等大小尺寸，制作更大尺寸的DDA時需要使用傳感器拼接技術。兩塊傳感器拼接，在連接區域不可避免的會存在像素缺失（至少缺1列或1行）；四塊傳感器拼接時，在中心區域會形成超過4個以上像素的“盲區”。因像素缺失和盲區的存在，會造成圖像的紋理變形和區域信息丟失，如下圖所示:

探測器拼接引起的像素丟失

從理論上講，這些丟失的像素可以視為壞像素，可以使用壞像素校正的方法進行彌補，但對細節檢出的影響總是不能讓人放心。